本發(fā)明公開(kāi)了一種WEM法的阻抗張量計(jì)算方法,包括步驟1,確定WEM臺(tái)信號(hào)能否覆蓋目標(biāo)探測(cè)區(qū);步驟2,設(shè)定WEM臺(tái)信號(hào)發(fā)射頻率和發(fā)射時(shí)長(zhǎng);記錄信號(hào)發(fā)射過(guò)程中的發(fā)射天線、發(fā)射頻率、電流、發(fā)射開(kāi)始時(shí)間和結(jié)束時(shí)間;步驟3,信號(hào)接收;步驟4,數(shù)據(jù)預(yù)處理,根據(jù)步驟2中記錄的信號(hào)發(fā)射過(guò)程中的信息,按頻率點(diǎn)進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理,得到2條視電阻率和相位曲線;步驟5,數(shù)據(jù)反演解釋;采用MT法的二維、三維反演方法進(jìn)行反演計(jì)算,得到的電磁反演剖面結(jié)合地質(zhì)、鉆井物探資源,劃分出二、三維地下電性結(jié)構(gòu)特征。所述WEM法的阻抗張量計(jì)算方法采用一次性輪換的發(fā)射模式,發(fā)射頻率按從高到低或從低到高順序發(fā)射方式,減少調(diào)諧電容的更換次數(shù),并節(jié)約發(fā)射時(shí)間。
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“WEM法的阻抗張量計(jì)算方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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