一種基于激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù)的
復(fù)合材料表面粗糙度測(cè)量方法,包括:S1、準(zhǔn)備材料相同或相近但表面粗糙度不同的復(fù)合材料樣品,并得到各樣品的表面粗糙度;S2、使用激光誘導(dǎo)擊穿光譜方法,用脈沖激光光束照射各復(fù)合材料樣品的表面,獲得等離子體特征光譜數(shù)據(jù);S3、建立等離子體特征光譜數(shù)據(jù)與對(duì)應(yīng)粗糙度的定標(biāo)關(guān)系;S4、使用激光誘導(dǎo)擊穿光譜方法,用脈沖激光光束照射待測(cè)復(fù)合材料的表面,獲得對(duì)等離子體特征光譜數(shù)據(jù);S5、根據(jù)S4得到的等離子體特征光譜數(shù)據(jù),利用步驟S3得到的定標(biāo)關(guān)系,確定待測(cè)復(fù)合材料的表面粗糙度。利用本方法可以對(duì)復(fù)合絕緣材料進(jìn)行遠(yuǎn)程、帶電的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,快速獲得精確的復(fù)合材料表面粗糙度。
聲明:
“基于激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù)的表面粗糙度測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)