本發(fā)明公開了一種應(yīng)力作用下
復(fù)合材料介電常數(shù)測(cè)量裝置與方法,屬于電磁場(chǎng)與微波技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明在傳統(tǒng)自由空間測(cè)量系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,加入了應(yīng)力加載機(jī)構(gòu),改變材料所受應(yīng)力的大小,材料發(fā)生微小形變導(dǎo)致反射波和透射波也會(huì)隨之變化,這個(gè)變化的信號(hào)攜帶著材料的介電信息,通過(guò)測(cè)量網(wǎng)絡(luò)反射系數(shù)和傳輸系數(shù)隨材料所受微應(yīng)變的變化,可以推導(dǎo)出材料介電常數(shù)的相對(duì)變化。此外,本發(fā)明提出了一種區(qū)別于傳統(tǒng)自由空間法的測(cè)量方法,在材料上加載應(yīng)力時(shí),材料會(huì)發(fā)生一定的位移和厚度變化,該變化對(duì)S參數(shù)的影響遠(yuǎn)大于材料發(fā)生微小形變對(duì)S參數(shù)的影響,本發(fā)明提出的測(cè)量方法去除了位移和厚度變化對(duì)S參數(shù)的影響,能夠準(zhǔn)確反演材料受力時(shí)介電常數(shù)的相對(duì)變化。
聲明:
“應(yīng)力作用下復(fù)合材料介電常數(shù)測(cè)量裝置與方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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