本發(fā)明公開的一種陣列光纖測金屬/
復(fù)合材料層間溫度與應(yīng)變的方法及裝置,其在鉆孔實驗中,可分別通過光纖的測溫段和測應(yīng)變段對金屬/復(fù)合材料層間溫度和應(yīng)變進行測量;其中,測溫段受毛細管的保護不會被擠壓,可保持自由狀態(tài),因此能夠準確測量出鉆孔實驗中的溫度變化;測溫段的溫度還可以用于對測應(yīng)變段的溫度進行補償,以消除溫度影響,得到準確的應(yīng)變值。本發(fā)明可廣泛應(yīng)用于航空航天、交通運輸領(lǐng)域相關(guān)零部件的
新材料、新產(chǎn)品、新工藝的科學(xué)研究和研發(fā)的過程監(jiān)控與測量。
聲明:
“陣列光纖測金屬/復(fù)合材料層間溫度與應(yīng)變的方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)