本發(fā)明公開了一種儲層物性參數(shù)的預(yù)測方法及電子設(shè)備,該方法包括:獲取目標區(qū)域的多個地質(zhì)物性參數(shù),并基于目標區(qū)域中的樣本區(qū)域的多個地質(zhì)物性參數(shù),建立目標區(qū)域的巖石物理模型;基于目標區(qū)域的巖石物理模型和目標區(qū)域的多個地質(zhì)物性參數(shù),構(gòu)建基于貝葉斯理論的單參數(shù)反演最優(yōu)化問題,并通過求解基于貝葉斯理論的單參數(shù)反演最優(yōu)化問題,得到目標候選區(qū)域;基于目標區(qū)域的巖石物理模型,構(gòu)建針對目標候選區(qū)域的基于貝葉斯理論的多參數(shù)聯(lián)合反演最優(yōu)化問題,并通過求解針對目標候選區(qū)域的基于貝葉斯理論的多參數(shù)聯(lián)合反演最優(yōu)化問題,得到目標候選區(qū)域中的多參數(shù)的預(yù)測值。
聲明:
“儲層物性參數(shù)的預(yù)測方法及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)