本實(shí)用新型涉及一種老化測(cè)試器結(jié)構(gòu)。這種老化測(cè)試器包括USB插頭和基體，基體包括蓋板、電路板和底板，電路板夾緊固定于蓋板和底板之間；USB插頭與電路板電連接，USB插頭固定連接蓋板和底板的側(cè)邊；電路板上的測(cè)試觸點(diǎn)穿過蓋板外露于背向電路板的、蓋板的工作表面，蓋板上設(shè)有沿著蓋板工作表面的法向凸起的隔離臺(tái)，隔離臺(tái)設(shè)在測(cè)試觸點(diǎn)與USB插頭之間。隔離臺(tái)的高度大于所述測(cè)試觸點(diǎn)的高度。本實(shí)用新型在USB插頭和測(cè)試觸點(diǎn)之間設(shè)置隔離臺(tái)，使得USB插頭和測(cè)試觸點(diǎn)不會(huì)產(chǎn)生擊穿，從而降低設(shè)備失效幾率、降低測(cè)試失敗幾率，同時(shí)保證了測(cè)試的安全，提高了測(cè)試器的可靠性，滿足測(cè)試需求。