本發(fā)明提供一種基于自動(dòng)測試設(shè)備的MARM存儲(chǔ)器的測試方法，所述測試方法包括：步驟S1，將自動(dòng)測試設(shè)備與MARM 存儲(chǔ)器電連接；步驟S2，對(duì)MRAM存儲(chǔ)器進(jìn)行全芯片存儲(chǔ)單元讀寫功能驗(yàn)證；步驟S3，根據(jù)MARM存儲(chǔ)器工作參數(shù)設(shè)定要求，對(duì)MARM存儲(chǔ)器進(jìn)行直流參數(shù)驗(yàn)證和交流參數(shù)驗(yàn)證。本發(fā)明提供的方法利用自動(dòng)測試設(shè)備針對(duì)MARM存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，能夠發(fā)現(xiàn)MARM存儲(chǔ)器的故障，所述測試方法能夠檢測MARM存在的各種可能的失效模式，包括：全芯片存儲(chǔ)單元讀寫功能驗(yàn)證；直流參數(shù)驗(yàn)證和交流參數(shù)驗(yàn)證。