本發(fā)明適用于測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種電子設(shè)備的老化檢測(cè)方法、系統(tǒng)、介質(zhì)和設(shè)備，其中，電子設(shè)備的老化檢測(cè)方法，包括如下步驟：將標(biāo)準(zhǔn)件與電子設(shè)備連接，所述電子設(shè)備上還設(shè)置有多個(gè)元器件，所述標(biāo)準(zhǔn)件用于對(duì)所述電子設(shè)備進(jìn)行老化檢測(cè)；根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)件的失效率曲線，獲取當(dāng)前時(shí)刻所述標(biāo)準(zhǔn)件對(duì)應(yīng)的理論值和實(shí)際測(cè)量值；根據(jù)當(dāng)前時(shí)刻所述標(biāo)準(zhǔn)件的理論值和實(shí)際測(cè)量值之間的標(biāo)準(zhǔn)差值，來(lái)判斷所述電子設(shè)備是否老化。通過(guò)本申請(qǐng)的方法，不需要獲取電子設(shè)備中的各元器件大量的參數(shù)來(lái)判斷電子設(shè)備是否老化，僅僅需要一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)件即可判斷，很大程度上簡(jiǎn)化了電子設(shè)備的檢修流程，而且不需要改變電子設(shè)備的原有電路。