本發(fā)明提供了一種內存檢測方法及裝置，其中，方法包括：S0：確定待測內存中對應同一個失效數據位的待測內存顆粒的數量，以及確定每一個待測內存顆粒的位置參數；并根據待測內存顆粒的數量確定至少一個檢測參數；S1：根據每一個檢測參數的大小，選擇一個未被選擇過的一個檢測參數；S2：根據選擇的檢測參數，修改待測內存的有效訪問區(qū)域；S3：根據修改后的有效訪問區(qū)域，訪問待測內存，并形成訪問結果；S4：判斷訪問結果是否為預設訪問結果，如果是，則執(zhí)行步驟S1；否則，執(zhí)行步驟S5；S5：根據選擇的檢測參數，以及每一個待測內存顆粒的位置參數，確定故障內存顆粒。通過本發(fā)明的技術方案，可更為準確的檢測出內存的故障內存顆粒。