本發(fā)明公開了一種電磁鐵動作次數(shù)壽命檢測裝置，包括感應(yīng)通道，MCU電路和繼電器；感應(yīng)通道中的檢測通道實施感知被電磁鐵動鐵芯運動情況，每遮擋或觸發(fā)一次MCU電路計數(shù)一次，校準通道為無遮擋光路或接通電源就能輸出信號，每通電一次MCU電路計數(shù)一次，二者計數(shù)值比較，確定一個測試周期內(nèi)電磁鐵失效的次數(shù)，若失效次數(shù)大于設(shè)定的次數(shù)或被檢電磁鐵動作滯后時間值大于設(shè)定的時間值，或總的測試次數(shù)大于MCU電路設(shè)定的次數(shù)時，MCU電路令測試停止。本發(fā)明通過比差測試確定失效次數(shù)，失效次數(shù)和滯后時間界定確認電磁鐵壽命，思路巧妙，裝置簡單，制作成本低廉等優(yōu)點。