本申請(qǐng)公開了缺陷檢測(cè)方法和裝置，缺陷處理方法和裝置。其中，缺陷檢測(cè)方法包括：確定分布式系統(tǒng)中具有原子性關(guān)系的多個(gè)共享數(shù)據(jù)處理操作的執(zhí)行軌跡；根據(jù)執(zhí)行軌跡確定候選的失效原子性缺陷；運(yùn)行分布式系統(tǒng)，并將與候選的失效原子性缺陷對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn)失效注入至分布式系統(tǒng)；獲取運(yùn)行分布式系統(tǒng)后的與失效原子性缺陷相關(guān)的多個(gè)共享數(shù)據(jù)；若多個(gè)共享數(shù)據(jù)不一致，則確定失效原子性缺陷。采用這種處理方式，使得通過觀察分布式系統(tǒng)的一次正確執(zhí)行，無需注入節(jié)點(diǎn)失效，即可預(yù)測(cè)可能的原子性違反錯(cuò)誤，并通過最后重放工作負(fù)載，注入節(jié)點(diǎn)失效，確定性地確認(rèn)缺陷、重放缺陷；因此，可以有效檢測(cè)出失效原子性缺陷，從而提升分布式系統(tǒng)的可靠性。