一種對基于微處理器的電子系統(tǒng)進(jìn)行測試和故障檢查的方法和系統(tǒng),它采用了存貯器仿真技術(shù)以及其它技術(shù),以提供完全的功能測試和缺陷定位。它在感興趣的總線周期期間,在預(yù)先選擇的時(shí)間位置上可以產(chǎn)生良好分辨率的同步脈沖,以使完整的故障尋找缺陷隔離容易。其它特點(diǎn)包括用存貯器仿真技術(shù)的總線測試,用ROM的片選線來編碼測試結(jié)果和在一個(gè)核心失效的系統(tǒng)中保持目標(biāo)微處理器功能的技術(shù)。
聲明:
“測試和故障檢查基于微處理器的電子系統(tǒng)的存貯器仿真方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)