本發(fā)明提供一種裸玻璃面板、電容檢測(cè)電路及電容檢測(cè)方法。電容檢測(cè)電路包括:充放電模塊,分別與參考電壓輸入端和電壓獲取模塊連接,并與裸玻璃面板上的測(cè)試點(diǎn)選擇性連接,用于在裸玻璃面板上的開關(guān)管導(dǎo)通后,對(duì)待測(cè)電容進(jìn)行充、放電;電壓獲取模塊,還與容值計(jì)算輸出模塊連接,用于獲取充放電模塊輸出的輸出電壓,并將輸出電壓發(fā)送至容值計(jì)算輸出模塊;容值計(jì)算輸出模塊,用于根據(jù)輸出電壓,預(yù)置的參考電壓,待測(cè)電容的充/放電頻率,及調(diào)整系數(shù),計(jì)算待測(cè)電容的電容值并輸出。采用本申請(qǐng)的電容檢測(cè)電路,在裸玻璃面板階段攔截失效的single?cell,避免在顯示面板制作完成后由于良率過(guò)低而導(dǎo)致報(bào)廢,從而達(dá)到降低浪費(fèi),減少成本的目的。
聲明:
“裸玻璃面板、電容檢測(cè)電路及電容檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)