一種基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效時(shí)間評估方法，該方法有四大步驟：步驟一：對SRAM型FPGA的配置網(wǎng)表文件進(jìn)行解析，采用SelectMAP配置方法，利用可重構(gòu)技術(shù)設(shè)計(jì)一套遍歷式單粒子故障注入方法；步驟二：對FPGA進(jìn)行功能電路配置，并對搭載有具體功能電路的FPGA實(shí)施遍歷式故障注入試驗(yàn)；步驟三：收集敏感位數(shù)據(jù)，利用敏感位數(shù)據(jù)驗(yàn)證三模冗余設(shè)計(jì)的效率，并計(jì)算功能電路的敏感因子；步驟四：利用敏感因子計(jì)算功能電路的功能失效時(shí)間。本發(fā)明能夠?qū)Υ钶d有功能電路的FPGA進(jìn)行功能失效時(shí)間評估，計(jì)算功能電路時(shí)間參數(shù)，提高預(yù)測精度和運(yùn)算效率，為單粒子加固提供數(shù)據(jù)上的支持，具有較好的可行性和推廣價(jià)值。