本發(fā)明涉及用于失效類型識別的方法和裝置，該方法包括：獲取在芯片的熱壓結(jié)合TCB期間測量的多個TCB關(guān)鍵參數(shù)的值；根據(jù)所獲取的所述多個TCB關(guān)鍵參數(shù)的值，設置用于識別所述芯片的TCB導致的任一失效類型的特定TCB關(guān)鍵參數(shù)的值，其中，所述任一失效類型指示某種TCB事件導致的某種特定失效，所述特定TCB關(guān)鍵參數(shù)是所述多個TCB關(guān)鍵參數(shù)中的至少兩個；判斷所述多個特定TCB關(guān)鍵參數(shù)的值是否都位于正常值范圍之外；如果判斷結(jié)果是肯定的，則確定所述芯片發(fā)生了所述任一失效類型。利用該方法和裝置，能夠準確地識別芯片發(fā)生的失效類型。