本公開是關于一種位元失效數(shù)據(jù)獲取方法、位元失效數(shù)據(jù)獲取裝置、計算機可讀存儲介質及電子設備，涉及集成電路技術領域。該位元失效數(shù)據(jù)獲取方法包括：將整片晶圓劃分為多個區(qū)域；測試每個所述區(qū)域，生成對應的位元失效文件；根據(jù)目標待測試芯片的坐標，確定所述目標待測試芯片所對應的目標位元失效文件；從所述目標位元失效文件中提取所述目標待測試芯片的位元失效數(shù)據(jù)。本公開提供一種從整片晶圓的位元失效數(shù)據(jù)中提取一顆或幾顆晶粒的位元失效數(shù)據(jù)的方法。