本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N失效位元的修補(bǔ)方案的確定方法，應(yīng)用于包含多個(gè)子域的芯片，該芯片還包括冗余電路，該冗余電路用于修補(bǔ)子域中的失效位元，該方法包括：在為子域中的當(dāng)前待修補(bǔ)的目標(biāo)失效位元確定一個(gè)或者多個(gè)可用冗余電路之后，從冗余電路的可靠性列表中獲取各可用冗余電路的可靠性值，該冗余電路的可靠性列表中包括多個(gè)冗余電路的可靠性值，根據(jù)該可用冗余電路的可靠性值確定子域中的目標(biāo)失效位元的修補(bǔ)方案。其中，冗余電路的可靠性值是對(duì)已經(jīng)發(fā)生的失效位元以及冗余電路中新失效位元所在的冗余電路的關(guān)系進(jìn)行大數(shù)據(jù)分析得到的，通過該方法為子域中失效位元分配的冗余電路的可靠性高，從而提高了失效位元的修補(bǔ)效率和修補(bǔ)準(zhǔn)確率。