本發(fā)明提供一種基于微波致熱的缺陷深度信息提取方法,屬于紅外無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該方法通過對(duì)材料進(jìn)行微波加熱,在恒定輸出功率下,材料達(dá)到了溫度平衡后,對(duì)材料進(jìn)行紅外溫度檢測(cè);然后通過已知的材料電磁參數(shù)、輸出功率,結(jié)合電磁波的多層反射理論,完成對(duì)缺陷深度信息的提取。本方法對(duì)缺陷深度信息檢測(cè)更為精確,同時(shí)具有檢測(cè)方式簡(jiǎn)便。
聲明:
“基于微波致熱的缺陷深度信息提取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)