本發(fā)明涉及無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于X射線探傷圖像的缺陷分析裝置。其包括設(shè)置在檢測(cè)臺(tái)中的聚焦鏡和透射光線接收器,該檢測(cè)臺(tái)水平固定在第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)的轉(zhuǎn)軸上,所述第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)豎向固定在其下方的升降平臺(tái)上,所述升降平臺(tái)固定在升降機(jī)構(gòu)上。X射線槍固定在檢測(cè)臺(tái)的上方,該X射線槍斜向朝向檢測(cè)臺(tái)上表面。第一旋轉(zhuǎn)電機(jī)、升降機(jī)構(gòu)、X射線槍均與控制柜連接。反射光線接收器設(shè)置在檢測(cè)臺(tái)的上方,且位于X射線槍對(duì)側(cè)。透射光線接收器和反射光線接收器均與成像及分析系統(tǒng)連接。本發(fā)明的分析裝置能夠?qū)ν粶y(cè)量位置進(jìn)行透射和反射光線成像,有效提高缺陷圖像的分辨率,而且該分析裝置能夠自動(dòng)完成對(duì)缺陷類型的歸類,有效提高了檢測(cè)效率。
聲明:
“基于X射線探傷圖像的缺陷分析裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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