本發(fā)明涉及一種聚乙烯及非金屬材質(zhì)X射線無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域用X射線密度像質(zhì)計(jì),包括密度像質(zhì)計(jì)型號(hào)標(biāo)記區(qū)、密度像質(zhì)計(jì)標(biāo)識(shí)塊、密度像質(zhì)計(jì)識(shí)別區(qū);密度像質(zhì)計(jì)型號(hào)標(biāo)記區(qū)設(shè)置于密度像質(zhì)計(jì)標(biāo)識(shí)塊上,密度像質(zhì)計(jì)型號(hào)標(biāo)記區(qū)上標(biāo)記有密度像質(zhì)計(jì)型號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)號(hào),密度像質(zhì)計(jì)標(biāo)識(shí)塊固定于密度像質(zhì)計(jì)識(shí)別區(qū),密度像質(zhì)計(jì)識(shí)別區(qū)是由多種階梯狀且密度不同的聚乙烯材質(zhì)及非金屬材質(zhì)連接構(gòu)成。本發(fā)明拓展了X射線檢測(cè)領(lǐng)域的檢測(cè)范圍,將傳統(tǒng)上X射線無(wú)損檢測(cè)只能檢測(cè)金屬材質(zhì)發(fā)展到聚乙烯及非金屬材質(zhì)的X射線無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域,填補(bǔ)了X射線無(wú)損檢測(cè)對(duì)聚乙烯及非金屬材質(zhì)領(lǐng)域X射線密度檢測(cè)法的空白。
聲明:
“X射線密度像質(zhì)計(jì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)