本發(fā)明公開的一種弱磁場(chǎng)激勵(lì)下金屬磁記憶檢測(cè)裝置及其使用方法,屬于金屬磁記憶無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。包括探頭、外殼和PC端;探頭嵌套在外殼內(nèi),探頭與外殼均為非鐵磁性材質(zhì),探頭與外殼之間設(shè)有若干壓縮彈簧,探頭能夠在外殼內(nèi)沿軸向運(yùn)動(dòng);探頭內(nèi)部設(shè)有三軸磁阻傳感器陣列、電路板和激勵(lì)磁軛,三軸磁阻傳感器陣列設(shè)在探頭的端板內(nèi),激勵(lì)磁軛包圍三軸磁阻傳感器陣列,激勵(lì)磁軛上纏繞有線圈,三軸磁阻傳感器陣列和線圈與電路板連接,電路板通過集線束與PC端連接。本發(fā)明改善了傳統(tǒng)磁記憶檢測(cè)信號(hào)較弱的情況,凸顯磁記憶檢測(cè)信號(hào)特征,實(shí)現(xiàn)對(duì)在役工件前期應(yīng)力集中狀態(tài)的快速檢測(cè);同時(shí)能夠使探頭檢測(cè)面充分貼合工件表面,提高檢測(cè)的效率和精準(zhǔn)度。
聲明:
“弱磁場(chǎng)激勵(lì)下金屬磁記憶檢測(cè)裝置及其使用方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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