本發(fā)明涉及一種探針,具體涉及一種分區(qū)涂覆催化劑涂層內(nèi)涂覆高度檢測探針及檢測方法。本發(fā)明的分區(qū)涂覆催化劑涂層內(nèi)涂覆高度檢測探針包括檢測探針、指示劑和電子測距儀,所述檢測探針底端涂覆有一定高度的指示劑,頂端設(shè)置有能夠相對(duì)檢測探針移動(dòng)的電子測距儀,其中探針直徑為0.5~2.0毫米,彎曲系數(shù)≤1.01。本發(fā)明通過對(duì)檢測探針的預(yù)處理、檢測及讀數(shù)可實(shí)現(xiàn)對(duì)涂層內(nèi)涂覆高度的低成本快速無損檢測,有效降低了分區(qū)涂覆蜂窩陶瓷載體催化劑的過程檢測成本,使涂覆工藝過程可控,從而大幅降低催化劑制備成本,還可適用于其他分區(qū)涂覆工業(yè)催化劑的涂層內(nèi)涂覆高度檢測。
聲明:
“分區(qū)涂覆催化劑涂層內(nèi)涂覆高度檢測探針及檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)