本發(fā)明屬于核技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域,該方法是將檢測單元設(shè)置在被檢客體的同一側(cè);由射線源射出的γ射線束周期性地掃描客體;由探測器同步測量客體被γ射線束照射時各部位產(chǎn)生的背散射,并將測得信號按時序排列、轉(zhuǎn)換為被檢客體的二維的背散射數(shù)字圖像;該裝置包括輻射防護(hù)屏蔽裝置及設(shè)置在其內(nèi)的γ射線源、探測器與信號采集與處理單元,γ射線源及其輻射防護(hù)屏蔽裝置、探測器為由一個或多個器件組成背散射探測器。本發(fā)明具有使被檢客體內(nèi)有機(jī)物的影像自動“加亮”的功能,且體積小,并解決了空間分辨率與探測器靈敏度的矛盾。
聲明:
“γ背散射成像無損檢測方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)