發(fā)明屬于核聚變反應(yīng)堆工程技術(shù)領(lǐng)域,具體公開(kāi)核聚變裝置包層表面附近冷卻通道堵塞的無(wú)損檢測(cè)方法,把待檢測(cè)的包層放入真空熱處理爐,并在包層外冷卻通道附近設(shè)置若干個(gè)測(cè)量位置,測(cè)量其溫度變化值;與數(shù)值仿真結(jié)果進(jìn)行比較,得出某個(gè)冷卻管道堵塞的結(jié)論;從而滿足核聚變裝置包層制造對(duì)冷卻通道是否堵塞進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的要求。
聲明:
“核聚變裝置包層表面附近冷卻通道堵塞的無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)