本發(fā)明公開了一種介電功能梯度絕緣雙模態(tài)無損檢測方法,首先根據(jù)三維絕緣子內(nèi)部不同位置的密度變化情況分割得到不同密度區(qū)域的邊界,然后以幾何信息作為輸入,根據(jù)測量邊界極板上電容的變化獲得訓(xùn)練樣本,經(jīng)歸一化處理后進(jìn)行訓(xùn)練;將功能梯度絕緣子邊界電容矩陣代入訓(xùn)練后的模型中,得到絕緣子內(nèi)部對應(yīng)材料分區(qū)內(nèi)的介電常數(shù)數(shù)值的大小,完成無損檢測。本發(fā)明結(jié)合ICT高空間分辨率與ECT直接介電反演的優(yōu)點(diǎn),實(shí)現(xiàn)介電功能梯度絕緣定形定參的無損檢測需求,通過機(jī)器學(xué)習(xí)算法在提高反演速度的同時(shí)也解決了參數(shù)反演過程的非線性與病態(tài)性的難題。
聲明:
“介電功能梯度絕緣雙模態(tài)無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)