本文公開了一種用于ZnO壓敏電阻性能評(píng)價(jià)的無損檢測(cè)方法,ZnO壓敏電阻的性能通常是通過對(duì)其小電流特性、非線性系數(shù)、電位梯度的測(cè)試來評(píng)價(jià)。本發(fā)明是通過使用介電譜對(duì)ZnO壓敏電阻的介電性能進(jìn)行測(cè)量的方法,從介電損耗以及其微觀結(jié)構(gòu)缺陷活化能的觀點(diǎn)來評(píng)價(jià)ZnO壓敏電阻性能的好壞。本發(fā)明是一種無損傷的測(cè)量,不僅可以用于評(píng)價(jià)ZnO壓敏電阻性能的優(yōu)劣,還可以對(duì)其配方和制作過程的優(yōu)化有一定指導(dǎo)意義。
聲明:
“用于ZnO壓敏電阻性能評(píng)價(jià)的無損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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