本實用新型提供一種超聲波無損檢測設(shè)備，屬于元器件缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域。所述無損檢測設(shè)備包括超聲波頭、移動裝置、夾持裝置、底板和樣品池；所述超聲波頭位于所述移動裝置上，用于產(chǎn)生并且檢測超聲波信號；所述移動裝置用于帶動所述超聲波頭移動；所述夾持裝置用于夾持待測樣品；所述底板用于支撐所述待測樣品；所述樣品池用于容納所述待測樣品、底板和所述夾持裝置；所述夾持裝置包括固定部件和活動部件，所述固定部件固定于所述底板上，所述活動部件與所述固定部件相連接，以形成中空結(jié)構(gòu)。本實用新型提供的無損檢測設(shè)備，待測樣品掃描圖像清晰度高，可以自動顯示待測樣品缺陷的位置及大小。