本發(fā)明公開(kāi)了化學(xué)領(lǐng)域的一種分子圖像缺鍵識(shí)別技術(shù)，包括以下過(guò)程：S1：生成化合物分子式圖像；S2：生成圖像原子、化學(xué)鍵標(biāo)注數(shù)據(jù)集；S3：生成環(huán)標(biāo)注集；S4：原子、化學(xué)鍵檢測(cè)識(shí)別模型和環(huán)檢測(cè)識(shí)別模型；S5：生成化合物分子圖；S6：利用rdkit軟件工具進(jìn)行分子圖的校驗(yàn)并生成smiles或者inchi字符串；本發(fā)明提供一種技術(shù)方案，在化合物圖像識(shí)別的過(guò)程中，通過(guò)引入對(duì)化合物圖像中環(huán)的檢測(cè)，提高圖像中化合物缺失化學(xué)鍵的推理能力，從而提高化學(xué)分子式的識(shí)別準(zhǔn)確率。