本發(fā)明涉及一種用于正負離子反應研究的質譜儀系統(tǒng);包括產生正離子的第一離子源、第一離子光學系統(tǒng)、產生負離子的第二離子源、第二離子光學系統(tǒng)、同時存儲正離子和負離子的離子阱、與所述離子阱連接的第一工作電源、可用于檢測反應產物的飛行時間質譜儀;從所述第一離子源產生的正離子經(jīng)所述第一離子光學系統(tǒng)進入所述離子阱,同時從所述第二離子源產生的負離子經(jīng)所述第二離子光學系統(tǒng)進入所述離子阱中,在所述離子阱中正離子和負離子碰撞化學反應后被第一工作電源產生的脈沖電壓逐出所述離子阱進入飛行時間質譜儀作質量分析;解決了氣相中的離子難以檢測和分辨,而且產生和控制也很困難的問題;從而實現(xiàn)高效準確地研究氣相中離子化學反應機理。
聲明:
“用于正負離子反應研究的質譜儀系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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