本發(fā)明涉及用于借助X射線熒光輻射(6)能量地校準光子計數(shù)的X射線探測器(2,27)的一種裝置(5)以及一種方法。所述裝置(5)包括多種有針對性地選擇的化學元素,其中的每個元素在利用電子或利用高能射線(4,28)進行照射時發(fā)射具有至少一個特定或特有能量的X射線熒光輻射(6)的光子,所述具有至少一個特定或特有能量的X射線熒光輻射(6)的光子被用于能量地校準光子計數(shù)的X射線探測器(2,27)。本發(fā)明還涉及具有這種裝置(5)的一種校準設備(1)以及一種X射線設備(21)。
聲明:
“校準X射線探測器的裝置和方法、校準設備和X射線設備” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)