本發(fā)明公開了一種雙端成對(duì)的剪接位點(diǎn)預(yù)測(cè)方法,該方法通過(guò)獲取雙端成對(duì)的剪接位點(diǎn)樣本序列作為基準(zhǔn)數(shù)據(jù)集和獨(dú)立數(shù)據(jù)集;將堿基序列通過(guò)基于序列本身、物理化學(xué)性質(zhì)等多種特征提取方式進(jìn)行編碼;組合多種特征作為一個(gè)多通道多維的向量表示;訓(xùn)練卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型;最后進(jìn)行評(píng)估。這種預(yù)測(cè)方法可以結(jié)合樣本多種特征表示方式,幫助卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)充分學(xué)習(xí)樣本內(nèi)在模式,提高了雙端成對(duì)的剪接位點(diǎn)預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確率。
聲明:
“雙端成對(duì)的剪接位點(diǎn)預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)