本實(shí)用新型公開了一種應(yīng)變測試系統(tǒng)，包括光纖光柵調(diào)制解調(diào)單元、光纖環(huán)形器、光電傳感單元、光柵單元、控制單元，所述光纖光柵調(diào)制解調(diào)單元的通過光纖與所述光纖環(huán)形器連接，所述光纖環(huán)形器的一個分路端口通過光纖與所述光柵單元連接，所述光纖環(huán)形器的另一個分路端口通過光纖與所述光電傳感單元連接，控制單元與所述光纖光柵調(diào)制解調(diào)單元、所述光電傳感單元電連接；所述光纖光柵調(diào)制解調(diào)單元包括光譜光源模塊、第一星型耦合模塊和移相陣列模塊。本實(shí)用新型能夠進(jìn)行微小應(yīng)變量的精確檢測，利用光纖受電磁場及電化學(xué)反應(yīng)干擾小，光纖傳感器尺寸小，絕緣性好等特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)對物體的應(yīng)變監(jiān)測。