一種用硒膜修飾電極測(cè)定銅離子的方法，采用電化學(xué)三電極測(cè)試系統(tǒng)和陽(yáng)極溶出微分計(jì) 時(shí)電勢(shì)法進(jìn)行測(cè)定，以熱裂解石墨為電極基質(zhì)，在稀鹽酸酸化介質(zhì)中經(jīng)Na2SeO3、Cu(II)還 原共富集時(shí)形成的硒膜作為工作電極，其上共還原富集銅的硒化物Cu2Se，通過(guò)記錄工作電 極上電勢(shì)E隨測(cè)試時(shí)間T的變化函數(shù)并進(jìn)行微分處理得到dT/dE→E的微分曲線，通過(guò)微分 曲線上特征響應(yīng)峰的高度計(jì)算Cu(II)的含量。本發(fā)明方法克服了傳統(tǒng)汞電極的環(huán)境危害和劇 毒性等缺點(diǎn)，并且具有測(cè)試靈敏度高，抗干擾性強(qiáng)，環(huán)保性好，成本低，流程短，便于操作， 效率高的優(yōu)點(diǎn)，可用于天然水質(zhì)中微量或痕量銅離子的分析測(cè)定。