本發(fā)明提供了一種基于量子點(diǎn)?納米通道的銅離子檢測(cè)方法，包括步驟：制備CdSe@ZIF?8/PAA膜；利用所述CdSe@ZIF?8/PAA膜制成與倒置熒光顯微鏡適配的芯片，所述芯片包括儲(chǔ)液池，所述CdSe@ZIF?8/PAA膜位于所述儲(chǔ)液池內(nèi)，其中，所述儲(chǔ)液池內(nèi)還置有工作電極，所述工作電極與電化學(xué)工作站電連；在所述儲(chǔ)液池中加入電解質(zhì)溶液和Cu²⁺溶液，所述電化學(xué)工作站施加電位實(shí)現(xiàn)Cu²⁺富集，通過(guò)所述倒置熒光顯微鏡對(duì)所述儲(chǔ)液池進(jìn)行熒光光譜掃描，并獲取光譜信號(hào)，實(shí)現(xiàn)對(duì)Cu²⁺的檢測(cè)。本發(fā)明提供的檢測(cè)方法，便于操作且成本低，且既能檢測(cè)到痕量的銅離子，也能使檢測(cè)過(guò)程可視化。