本公開提供了一種基于
電化學(xué)參數(shù)的葡萄糖傳感器的出廠校準(zhǔn)方法,其包括:獲取同一批次出廠的、相同工藝下制備的多個(gè)葡萄糖傳感器;從多個(gè)葡萄糖傳感器選取至少一個(gè)葡萄糖傳感器作為傳感器樣品,對傳感器樣品進(jìn)行分析測試,獲取傳感器樣品的電流隨葡萄糖濃度變化的變化曲線以及靈敏度的衰減曲線;基于變化曲線和衰減曲線生成傳感器樣品的補(bǔ)償模型;并且將補(bǔ)償模型嵌入到多個(gè)葡萄糖傳感器以實(shí)現(xiàn)對多個(gè)葡萄糖傳感器的自動校準(zhǔn)。在本公開所涉及的葡萄糖傳感器的出廠校準(zhǔn)方法中,能夠基于變化曲線和衰減曲線生成補(bǔ)償模型,葡萄糖傳感器能夠通過嵌入的補(bǔ)償模型對自身進(jìn)行不斷的矯正,由此,能夠?qū)崿F(xiàn)傳感器的自動校準(zhǔn)。
聲明:
“基于電化學(xué)參數(shù)的葡萄糖傳感器的出廠校準(zhǔn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)