本實(shí)用新型公開(kāi)了一種犧牲陽(yáng)極
電化學(xué)性能測(cè)試用樣品封裝裝置,樣品為柱狀,其上、下端面分別開(kāi)設(shè)有螺孔和小孔,封裝裝置包括分別對(duì)樣品的上、下端面完全覆蓋并夾緊的上壓緊部和下壓緊部,連接在上壓緊部和下壓緊部之間的連接部,上壓緊部和下壓緊部中至少有一個(gè)壓緊部具有可調(diào)節(jié)上壓緊部和下壓緊部之間的壓緊間距的活動(dòng)壓板。本實(shí)用新型利用相對(duì)設(shè)置的下頂板和活動(dòng)壓板夾緊樣品,裝夾方便,而且活動(dòng)壓板和下頂板能分別將樣品的上下端面完全覆蓋,不僅操作簡(jiǎn)單,而且由于在樣品上下端面無(wú)任何殘留,面積控制精準(zhǔn),因此測(cè)試結(jié)果精度高。
聲明:
“犧牲陽(yáng)極電化學(xué)性能測(cè)試用樣品封裝裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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