本發(fā)明專利公布了一種透射模式電化學(xué)原位光學(xué)測試裝置，屬于材料測試設(shè)備及研究領(lǐng)域，本裝置可以在電化學(xué)充放電過程中對電極材料進(jìn)行透射模式下的原位光學(xué)測試，包括不同波段的可見光，激光和X射線,以及同步輻射及中子衍射等測試。本發(fā)明專利所涉及的裝置為密閉結(jié)構(gòu)，適用于對空氣和水分敏感的材料，如電池電極材料的測定，通過正極和負(fù)極固定片的設(shè)計(jì)來固定被測試材料，提高了測試的可重復(fù)性，設(shè)有電極接口，可以在測試過程中對材料進(jìn)行電化學(xué)調(diào)控，電極與電極材料之間大面積的接觸，減小了裝置的電阻，裝置兩端設(shè)有視窗，中間設(shè)有通路，允許光線通過，且具有安裝拆卸方便等優(yōu)點(diǎn)。本發(fā)明專利所涉及的裝置還可以做為反射模式使用，可對兩側(cè)電極材料分別進(jìn)行測試。