本發(fā)明涉及一種電化學測試用薄膜樣品及其制備方法，屬于金屬薄膜材料技術領域。本發(fā)明的電化學測試用薄膜樣品，包括襯底層以及設置在襯底層上的金屬薄膜層，金屬薄膜層包括工作部和密封部；所述密封部遠離襯底層的一側(cè)表面上導電連接有導電電極，所述密封部上設置有用來對導電電極與密封部的連接部位進行覆蓋的絕緣密封層。本發(fā)明的電化學測試用薄膜樣品能夠使電極與待測樣品良好接觸，能夠保證非測試區(qū)域的絕緣密封性及待測樣品的有效測試面積，進而保證待測樣品電化學性能測試的準確性和靈敏度。