本發(fā)明公開(kāi)了一種基于磁微粒的微流控化學(xué)發(fā)光檢測(cè)系統(tǒng),包括底盤(pán)和上層
芯片;所述上層芯片包括位于上層芯片中心的加樣區(qū)和至少一個(gè)與所述加樣區(qū)連通的微流控反應(yīng)檢測(cè)通道;所述微流控反應(yīng)檢測(cè)通道為競(jìng)爭(zhēng)法微流控反應(yīng)檢測(cè)通道或夾心法微流控反應(yīng)檢測(cè)通道;應(yīng)用時(shí),所述底盤(pán)設(shè)置于上層芯片的下方,所述底盤(pán)對(duì)應(yīng)各微流控反應(yīng)檢測(cè)通道的磁微粒包被區(qū)的位置設(shè)有磁鐵,所述磁鐵為永磁鐵或電磁鐵。
聲明:
“基于磁微粒的微流控化學(xué)發(fā)光檢測(cè)系統(tǒng)及其應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)