本發(fā)明涉及一種用于化學(xué)發(fā)光免疫檢測的基于樣條插值算法的曲線擬合方法,其解決了化學(xué)發(fā)光免疫檢測領(lǐng)域現(xiàn)有的四參數(shù)擬合算法參數(shù)調(diào)教困難、回算精度低,對于不同濃度數(shù)量級跨度的主曲線通用性差的技術(shù)問題,其首先獲取輸入的待擬合點(diǎn),然后采用樣條插值算法進(jìn)行擬合,保存系數(shù)用以回算濃度。本發(fā)明廣泛用于化學(xué)發(fā)光免疫檢測技術(shù)領(lǐng)域。
聲明:
“用于化學(xué)發(fā)光免疫檢測的基于樣條插值算法的曲線擬合方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)