本發(fā)明涉及一種基因檢測(cè)用電化學(xué)基因芯片測(cè)試系統(tǒng)，包括測(cè)試設(shè)備本體，所述測(cè)試設(shè)備本體外設(shè)置有防護(hù)機(jī)構(gòu)，所述防護(hù)機(jī)構(gòu)包括一號(hào)防護(hù)罩和支撐滑槽，所述一號(hào)防護(hù)罩的外側(cè)壁上對(duì)稱開設(shè)有兩個(gè)支撐滑槽，且支撐滑槽內(nèi)滑動(dòng)設(shè)置有支撐滑桿；所述一號(hào)防護(hù)罩上開設(shè)有散熱通孔，所述一號(hào)防護(hù)罩內(nèi)設(shè)置有封堵機(jī)構(gòu)，所述封堵機(jī)構(gòu)包括封堵密封板和支撐滑動(dòng)槽，所述封堵密封板滑動(dòng)設(shè)置在支撐滑動(dòng)槽內(nèi)，且支撐滑動(dòng)槽開設(shè)在一號(hào)防護(hù)罩的內(nèi)側(cè)壁上，所述支撐滑動(dòng)槽與散熱通孔相連通設(shè)置，所述封堵密封板的側(cè)壁固定連接有固定支撐塊，且固定支撐塊的側(cè)壁上固定連接有緩沖防卡機(jī)構(gòu)，所述緩沖防卡機(jī)構(gòu)的自由端固定連接在一號(hào)防脫塊上。