本發(fā)明公開了一種化學發(fā)光法檢測NO的裝置及其檢測方法,所述裝置包括產(chǎn)氣系統(tǒng)和氮氧化物化學發(fā)光分析儀,還包括用于放置雜質吸附物的密封組件、質量流量控制支路和待檢測氣源支路,所述產(chǎn)氣系統(tǒng)分別與所述質量流量控制支路和待檢測氣源支路連接,所述密封組件的一端分別與所述質量流量控制支路和待檢測氣源支路連接,所述密封組件的另一端與所述氮氧化物化學發(fā)光分析儀連接;所述方法通過該裝置檢測;本發(fā)明的化學發(fā)光法檢測NO的方法,在特定條件下,通過雜質吸附物處理,可以有效地消除雜質的干擾,從而NO的檢測更為準確。
聲明:
“化學發(fā)光法測定NO的裝置及其檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)