本發(fā)明實(shí)施例提供了現(xiàn)場電化學(xué)顯微光譜成像方法以及系統(tǒng)，以解決市售普通工作電極無法應(yīng)用于在光譜電化學(xué)技術(shù)中，并且，很難采集到工作電極表面的信息的問題。上述系統(tǒng)包括光源設(shè)備、電化學(xué)信號設(shè)備、電化學(xué)接口設(shè)備以及顯微光譜成像設(shè)備。上述電化學(xué)接口設(shè)備可豎直安放市售普通的工作電極，光源設(shè)備提供的入射光斜照在工作電極的表面上，經(jīng)反射后被顯微光譜成像設(shè)備采集到。上述反射光包含了工作電極表面的信息，顯微光譜成像設(shè)備從而可根據(jù)反射光生成光譜和對工作電極表面顯微成像，因此解決了依靠現(xiàn)有的設(shè)備很難采集到工作電極表面的信息的問題。同時(shí)實(shí)現(xiàn)了將市售的普通工作電極應(yīng)用于在光譜電化學(xué)技術(shù)中的目的。