本發(fā)明公開了一種TDI線列紅外探測(cè)器成像性能測(cè)試方法,具體包括以下步驟:S1、先將需要測(cè)試的紅外探測(cè)器的基本參數(shù)進(jìn)行登記,并將登記信息傳送至存儲(chǔ)器中進(jìn)行保存,然后將紅外探測(cè)器放置測(cè)試機(jī)臺(tái)上準(zhǔn)備進(jìn)行成像性能測(cè)試;S2、啟動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)上的性能測(cè)試設(shè)備,并將檢測(cè)項(xiàng)目顯示在裝置上,本發(fā)明涉及紅外線探測(cè)器技術(shù)領(lǐng)域。該TDI線列紅外探測(cè)器成像性能測(cè)試方法,可實(shí)現(xiàn)對(duì)該紅外探測(cè)器進(jìn)行有效成像性能測(cè)試,且根據(jù)成像性能測(cè)試數(shù)據(jù)精確判斷該紅外探測(cè)器是否符合生產(chǎn)條件,同時(shí)使用的設(shè)備造價(jià)低廉,降低了經(jīng)濟(jì)成本,同時(shí)能夠快速將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送至顯示終端上供人員查看,為后續(xù)紅外探測(cè)器的改進(jìn)工作奠定了基礎(chǔ)。
聲明:
“一種TDI線列紅外探測(cè)器成像性能測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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