本發(fā)明涉及一種太赫茲波性能的檢測裝置和方法，采用了具有可調(diào)諧反射空間太赫茲波效果的本征鍺材料平板、拋物面鏡、二維掃描振鏡和兩個(gè)一維直流電機(jī)，將本征鍺材料平板固定在太赫茲準(zhǔn)直光束傳輸?shù)穆窂街?，通過調(diào)節(jié)二維掃描振鏡，使縮束后的光束掃描本征鍺材料的不同空間位置，反射需要探測的區(qū)域，同時(shí)用電光晶體探測太赫茲光束的時(shí)域光譜，最后通過后期頻譜分析處理，即可實(shí)現(xiàn)太赫茲光束不同區(qū)域內(nèi)電場幅度、頻率和相位的數(shù)據(jù)提取?？梢越鉀Q國際上對(duì)源特征探測的科學(xué)難題，為后期的科學(xué)研究工作奠定基礎(chǔ)，在實(shí)際應(yīng)用中可以幫助使用者針對(duì)不同的源采用不同的特征選取手段，提高太赫茲波的應(yīng)用效率。