本實用新型公開了一種用于單光子發(fā)射斷層掃描系統(tǒng)的性能檢測的雙線源模(10),其特征在于包括:第一夾板(11);第二夾板(12),與所述第一夾板(11)具有對稱的結構并與其相對設置;和雙線源(13),設置在所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)之間,其中在所述第一夾板(11)和所述第二夾板(12)的相對表面上的相應位置處分別設置有形狀相同的細長凹槽(14),所述雙線源(13)設置在所述細長凹槽(14)中。
聲明:
“用于單光子發(fā)射斷層掃描系統(tǒng)的性能檢測的雙線源?!?該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)