本發(fā)明公開的一種廢舊半導(dǎo)體儲存器檢測回收系統(tǒng)及其使用方法,包括工作臺,所述工作臺內(nèi)設(shè)有開口朝上的回收腔,所述工作臺內(nèi)設(shè)有位于所述回收腔左側(cè)的,所述工作臺上設(shè)有閃存顆粒拆解機(jī)構(gòu),所述工作臺上設(shè)有位于所述閃存顆粒拆解機(jī)構(gòu)右側(cè)的閃存顆粒檢測
篩分機(jī)構(gòu),所述閃存顆粒檢測篩分機(jī)構(gòu)用于檢測閃存顆粒,并對能正常工作的所述閃存顆粒和損壞的所述閃存顆粒進(jìn)行分類儲存,所述閃存顆粒拆解機(jī)構(gòu)通過加熱使所述閃存顆粒與廢舊手機(jī)主板脫離,本發(fā)明能自動(dòng)回收檢測手機(jī)上的閃存顆粒,并對閃存顆粒進(jìn)行檢測分類回收,自動(dòng)化程度較高,處理效率較高,降低對人員依賴性,且能降低廢氣對人員和環(huán)境的危害程度。
聲明:
“廢舊半導(dǎo)體儲存器檢測回收系統(tǒng)及其使用方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)