本發(fā)明提供一種待勘測(cè)區(qū)塊關(guān)鍵地質(zhì)參數(shù)的選取方法、裝置、及設(shè)備,該方法包括:獲取待勘測(cè)區(qū)塊的所有地質(zhì)參數(shù)的多組樣本數(shù)據(jù);將預(yù)設(shè)的目標(biāo)對(duì)照區(qū)塊的每個(gè)關(guān)鍵參數(shù)的多組樣本數(shù)據(jù)、以及待勘測(cè)區(qū)塊的第一地質(zhì)參數(shù)的多組樣本數(shù)據(jù)分別輸入至預(yù)先構(gòu)建的判別模型中,得到待勘測(cè)區(qū)塊相對(duì)于目標(biāo)對(duì)照區(qū)塊的相似度概率;基于待勘測(cè)區(qū)塊與所有目標(biāo)對(duì)照區(qū)塊的相似度概率,確定與待勘測(cè)區(qū)塊類比概率最大的對(duì)照區(qū)塊為最相關(guān)區(qū)塊;在待勘測(cè)區(qū)塊的所有地質(zhì)參數(shù)中選取與最相關(guān)區(qū)塊相同的關(guān)鍵地質(zhì)參數(shù),作為待勘測(cè)區(qū)塊的關(guān)鍵地質(zhì)參數(shù)。本發(fā)明可以排除主觀人為因素的影響,使得后續(xù)資源量計(jì)算的結(jié)構(gòu)可以更加準(zhǔn)確。
聲明:
“待勘測(cè)區(qū)塊關(guān)鍵地質(zhì)參數(shù)的選取方法、裝置、及設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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