本發(fā)明公開了一種快速收集閾值電壓分布的方法,通過將傳統(tǒng)采用統(tǒng)一電壓掃描步長的一次掃描方式優(yōu)化為采用不同電壓掃描步長的二次掃描方式,第一次掃描采用較大的步長進(jìn)行,根據(jù)存儲單元失效數(shù)目,大致判斷閾值電壓分布范圍,當(dāng)出現(xiàn)第一個存儲單元失效時,可依此判斷閾值電壓分布的開始值;當(dāng)存儲單元全部失效時,可依此判斷閾值電壓分布的結(jié)束值,確定閾值電壓分布的大致范圍后,采用較小的步長進(jìn)行第二次掃描,從而可大大縮短收集閾值電壓分布所需的時間,也保證了測試的準(zhǔn)確性。
聲明:
“快速收集閾值電壓分布的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)