本發(fā)明公開(kāi)了一種用于監(jiān)測(cè)電抗器壽命的系統(tǒng)，包括：溫度采集模塊，其設(shè)置在待測(cè)電抗器的芯柱和/或繞組熱點(diǎn)的測(cè)溫點(diǎn)處，用于在電抗器運(yùn)行時(shí)，實(shí)時(shí)測(cè)量每個(gè)測(cè)溫點(diǎn)的溫度數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)收集及壽命模擬模塊，其用于接收溫度數(shù)據(jù)，得到溫度數(shù)據(jù)序列，根據(jù)電抗器絕緣材料，獲取當(dāng)前材料在不同溫度下絕緣阻值隨時(shí)間變化數(shù)據(jù)序列，將該序列與每個(gè)測(cè)溫點(diǎn)的溫度數(shù)據(jù)序列進(jìn)行對(duì)比，構(gòu)建絕緣阻值隨時(shí)間變化曲線；壽命診斷模塊，其用于獲取絕緣阻值隨時(shí)間變化曲線，利用預(yù)設(shè)的失效電阻閾值，由電抗器實(shí)際絕緣電阻得到電抗器壽命監(jiān)測(cè)結(jié)果。本發(fā)明不限制待測(cè)對(duì)象類型，實(shí)時(shí)估算電抗器的壽命，通過(guò)監(jiān)測(cè)的溫度數(shù)據(jù)有效的達(dá)到壽命預(yù)警的目的。